鋁殼電阻制造中的常見(jiàn)問(wèn)題及解決方法:
1 電阻值偏差
電阻值偏差是鋁殼電阻制造中的常見(jiàn)問(wèn)題,通常由電阻合金絲的材質(zhì)不均勻或繞線工藝控制不當(dāng)引起。解決方法包括優(yōu)化電阻合金絲的材質(zhì)和繞線工藝參數(shù)。
2 焊接點(diǎn)失效
焊接點(diǎn)失效是鋁殼電阻制造中的另一個(gè)常見(jiàn)問(wèn)題,通常由焊接溫度、焊接時(shí)間或焊接壓力控制不當(dāng)引起。解決方法包括優(yōu)化焊接工藝參數(shù)和加強(qiáng)焊接過(guò)程的質(zhì)量控制。
3 外殼散熱不良
外殼散熱不良是鋁殼電阻制造中的常見(jiàn)問(wèn)題,通常由外殼表面處理工藝不當(dāng)或封裝材料導(dǎo)熱性差引起。解決方法包括優(yōu)化外殼表面處理工藝和選擇導(dǎo)熱性良好的封裝材料。
電話:021-58235892 傳真:021-58236511 手機(jī):13611744558 公司地址:上海市浦東新區(qū)大團(tuán)鎮(zhèn)三墩社區(qū)扶欄村19組382號(hào).12組路和老村委路交叉口。 郵箱:jxdq@jingxichina.com 版權(quán)所有:上海晶犀電器有限公司|負(fù)載箱,制動(dòng)電阻,不銹鋼電阻,鋁殼電阻,鋁合金電阻,線繞電阻 滬ICP備14013411號(hào)-1滬公網(wǎng)安備 31011502005724號(hào) | Sitemap